什么是爆米花效應?如何防止IC芯片爆米花效應?
什么是爆米花效應?

爆米花效應(Popcorm Effect)特指因封裝產生裂紋而導致芯片報廢的現象,這種現象發生時,常伴有爆米花般的聲響,故而得名。爆米花效應其實指的是濕敏器件在受潮了之后,經過高溫熱處理(回流焊、波峰焊等),導致器件的內部潮氣氣化進而導致的器件膨脹,撐開塑封膠體或者基板。而且,在冷卻的過程中,由于器件部件內部材料熱脹冷縮速率的不一樣,進而造成了內部材料的裂紋等現象。
爆米花裂紋產生的原理
一般環境保存的時候,水蒸氣滲入,大氣中的水分會緩慢擴散至IC板內,久了會堆積一些水分在里面。當焊接的過程中,高溫使得水蒸氣的壓力增高的時候,造成封裝材質與晶片之間的脫層分離。隨著熱量的不斷增高,水蒸氣更加的膨脹,使IC板也隨之膨脹(爆米花效應),此時膨脹的水蒸氣就會導致IC板產生龜裂,水蒸氣隨之從縫隙散發出來。
防止芯片爆米花的措施
要想防止IC芯片發生爆米花效應,需要從IC生產過程的材料、制作工藝、制作環境三個方面進行加強管理。封裝體內部的水汽量其實是由封裝材料、封裝體本身、所處環境釋放的水汽以及通過密封處漏入的水汽組成的。因此,要防止水汽侵入,良好的鈍化覆蓋層(使用磷玻璃或氮化硅)是必要的,減少包封料中的離子沾污物,在包封料中摻入雜質離子俘獲劑或離子清除劑,提高塑封料與引線框架間的粘接強度,在塑封料中加入填充物延長水汽滲透路徑,使用低吸水性包封料等。另外,封裝的環境氣氛必須要很干燥,封裝前各個部件應該在真空且高溫下長時間進行烘烤,除去水汽。
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